1.一種測試系統的坐標圖形顯示單元，適用于波形測試系統，其特征在于：包括通信接
口模塊、探針坐標獲取模塊和Map顯示模塊，所述通信接口模塊與波形測試系統連接，所述
探針坐標獲取模塊與通信接口模塊連接，所述Map顯示模塊與所述探針坐標獲取模塊連接，
所述Map顯示模塊包括圖形顯示模塊、Bin值數量顯示模塊、顏色設置模塊、參數設置模塊和
文件保存模塊，圖形顯示模塊、Bin值數量顯示模塊、顏色設置模塊、參數設置模塊和文件保
存模塊均與所述的探針坐標獲取模塊連接，所述波形測試系統包括電路參數采集模塊和電
路參數顯示模塊，電路參數采集模塊包括電路測試單元、模數轉換單元和主控芯片單元，電
路參數顯示模塊包括通信單元和運算單元，電路測試單元和模數轉換單元相連接，模數轉
換單元與主控芯片單元相連接，主控芯片單元與通信單元通信連接，通信單元與運算單元
相連接，運算單元與測試系統的坐標圖形顯示單元相連接；
測試系統的坐標圖形顯示單元為執行以下步驟的測試系統的坐標圖形顯示單元：
步驟1，電路測試單元測量并采集集成芯片參數，集成芯片參數為時序數據；具體為電
路測試單元以設定值為步距采集至少50個點，則集成芯片參數為0到步距與至少50個點的
乘積的時間內的電路參數時序數據；
步驟2，模數轉換單元將采集的集成芯片參數進行模數轉換；
步驟3，主控芯片單元將模數轉換后的集成芯片參數進行存儲并傳遞給電路參數顯示
模塊的通信單元；
步驟4，通信單元將采集的集成芯片參數發送至運算單元，運算單元對集成芯片參數進
行運算加工；
步驟5，測試系統的坐標圖形顯示單元接收運算單元運算加工后的集成芯片參數并顯
示。
2.根據權利要求1所述的測試系統的坐標圖形顯示單元，其特征在于：所述波形測試系
統為探針臺波形測試系統。
3.根據權利要求2所述的測試系統的坐標圖形顯示單元，其特征在于：通信接口模塊為
定義與探針臺波形測試系統的通信協議，獲取探針臺波形測試系統的開始測試標志及測試
工位信息及坐標信息的模塊；
map顯示模塊為定義一個類來實現map顯示的各種操作的模塊；圖形顯示模塊為定義一
個結構體保存map相關信息的模塊，Bin值數量顯示模塊為采用靜態控件進行bin數量顯示，
定義數組SBin[]進行測試結果bin存儲的模塊；參數設置模塊為通過編輯框輸入進行map
直徑、角度、針卡測試順序和芯片大小進行設置的模塊；文件保存模塊為保存map圖片的文
本格式、保存BMP格式圖片保存坐標和bin信息的模塊。
4.一種測試系統的坐標圖形顯示方法，適用于如權利要求1所述的測試系統的坐標圖
形顯示單元，其特征在于：
步驟1，電路測試單元測量并采集集成芯片參數，集成芯片參數為時序數據；具體為電
路測試單元以設定值為步距采集至少50個點，則集成芯片參數為0到步距與至少50個點的
乘積的時間內的電路參數時序數據；
步驟2，模數轉換單元將采集的集成芯片參數進行模數轉換；
步驟3，主控芯片單元將模數轉換后的集成芯片參數進行存儲并傳遞給電路參數顯示
模塊的通信單元；
步驟4，通信單元將采集的集成芯片參數發送至運算單元，運算單元對集成芯片參數進
行運算加工；
步驟5，測試系統的坐標圖形顯示單元接收運算單元運算加工后的集成芯片參數并顯
示。
5.根據權利要求4所述的測試系統的坐標圖形顯示方法，其特征在于：所述的設定值的
范圍為5us至20us，采集的數量為至少500個點。
6.根據權利要求5所述的測試系統的坐標圖形顯示方法，其特征在于：所述的步驟4具
體為通信單元將采集的集成芯片參數發送至運算單元，運算單元計算出電路參數時序數據
的最大值、最小值、超調量和穩定時間，并進行圖形運算繪制波形圖。
7.根據權利要求6所述的測試系統的坐標圖形顯示方法，其特征在于：還包括步驟6，測
試系統的坐標圖形顯示單元還顯示集成芯片參數的理論波形圖，并將理論波形圖的每個點
的數值的±5-10%作為誤差，測試系統的坐標圖形顯示單元顯示理論波形圖誤差范圍，再將
實際的波形圖和理論波形圖做比較，若實際的波形圖在誤差范圍內，則表示集成芯片合格，
若實際的波形圖超出誤差范圍，則表示集成芯片不合格。
8.根據權利要求7所述的測試系統的坐標圖形顯示方法，其特征在于：還包括步驟7，測
試系統的坐標圖形顯示單元顯示一條與X軸平行的且以理論波形圖最大值上浮5%為數值的
直線，若實際的波形圖最大值未超過直線，則表示集成芯片合格，若實際的波形圖最大值超
過直線，則表示集成芯片不合格。
9.根據權利要求8所述的測試系統的坐標圖形顯示方法，其特征在于：還包括步驟8，測
試系統的坐標圖形顯示單元顯示一條與Y軸平行的且以理論波形圖穩定時間值延遲若干時
間為數值的第一直線，測試系統的坐標圖形顯示單元還顯示一條與Y軸平行的且以理論波
形圖穩定時間值提早若干時間為數值的第二直線，若實際的波形圖穩定時間值在第一直線
和第二直線之間，則表示集成芯片合格，若實際的波形圖穩定時間值不在第一直線和第二
直線之間，則表示集成芯片不合格。
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